L'analyseur de wafer 2830 ZT à fluorescence X à dispersion de longueur d'onde dispose des dernières technologies en matière de mesure d'épaisseur de film et de composition. Conçu spécifiquement pour l'industrie des semi-conducteurs et du stockage de données, l'analyseur de wafer 2830 ZT de PANalytical permet de déterminer la composition des couches, leur épaisseur, le niveau des dopants et l'uniformité de la surface pour une large gamme de wafers jusqu'à 300 mm.
