Caractérisation de surface de couches minces de polymère à l'aide de la microscopie à force atomique
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ANTON PAAR FRANCE
Microscope à force atomique - Produit
Le Microscope à force atomique (ou AFM : Atomic Force Miscroscopy en anglais) est un microscope à"sonde locale", cette dernière permettant d'afficher la topographie de la surface d'un échantillon
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